型号 功能描述 生产厂家 企业 LOGO 操作

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio

TI

德州仪器

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:474.07 Kbytes Page:26 Pages

TI

德州仪器

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:644.36 Kbytes Page:28 Pages

TI

德州仪器

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:474.07 Kbytes Page:26 Pages

TI

德州仪器

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:644.36 Kbytes Page:28 Pages

TI

德州仪器

SN74BCT8374NT产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SN74BCT8374NT

  • 制造商

    Texas Instruments

  • 功能描述

    Flip Flop, Octal, D Type, 24 Pin, Plastic, DIP

更新时间:2026-1-1 20:00:02
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI/德州仪器
24+
NA/
7541
原厂直销,现货供应,账期支持!
SN74BCT8374ADWR
25+
1823
1823
TI
5
全新原装 货期两周
24+
3000
自己现货
TI/德州仪器
24+
SOIC-24
9600
原装现货,优势供应,支持实单!
TI/德州仪器
23+
SOIC-24
5000
只有原装,欢迎来电咨询!
TI/德州仪器
25+
SOIC-24
9980
只做原装 支持实单
TI/德州仪器
22+
SOIC-24
20000
公司只有原装 品质保障
ADI
23+
DIP
8000
只做原装现货
ADI
23+
DIP
7000

SN74BCT8374NT数据表相关新闻