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| 型号 | 功能描述 | 生产厂家 企业 | LOGO | 操作 |
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SN74BCT8374ANT | SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：474.07 Kbytes Page：26 Pages | TI 德州仪器 |   | |
SN74BCT8374ANT | SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：644.36 Kbytes Page：28 Pages | TI 德州仪器 | | |
SN74BCT8374ANT | 封装/外壳：24-DIP（0.300"，7.62mm） 包装：卷带（TR） 描述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP 集成电路（IC） 专用逻辑器件 | TI 德州仪器 | | |
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封装/外壳：24-DIP（0.300"，7.62mm） 包装：卷带（TR） 描述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP 集成电路（IC） 专用逻辑器件 | TI 德州仪器 | | ||
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS Members of the Texas Instruments SCOPE Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio | TI 德州仪器 | | ||
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS 文件：644.36 Kbytes Page：28 Pages | TI 德州仪器 | |
SN74BCT8374ANT产品属性
- 类型
描述
- 型号
SN74BCT8374ANT
- 功能描述
触发器 Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop
- RoHS
否
- 制造商
Texas Instruments
- 电路数量
2
- 逻辑系列
SN74
- 逻辑类型
D-Type Flip-Flop
- 极性
Inverting, Non-Inverting
- 输入类型
CMOS
- 传播延迟时间
4.4 ns
- 高电平输出电流
- 16 mA
- 低电平输出电流
16 mA
- 电源电压-最大
5.5 V
- 最大工作温度
+ 85 C
- 安装风格
SMD/SMT
- 封装/箱体
X2SON-8
- 封装
Reel
| IC供应商 | 芯片型号 | 品牌 | 批号 | 封装 | 库存 | 备注 | 价格 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
TI/德州仪器 |
24+ |
NA/ |
7541 |
原厂直销,现货供应,账期支持! |
|||
TI |
24+ |
SOP28 |
20000 |
全新原厂原装，进口正品现货，正规渠道可含税！！ |
|||
TI |
24+/25+ |
3483 |
原装正品现货库存价优 |
||||
TI/德州仪器 |
23+ |
SOT-353 |
50000 |
原装正品 支持实单 |
|||
TI |
20+ |
SOP |
2960 |
诚信交易大量库存现货 |
|||
TI |
23+ |
5.2mm |
59097 |
公司原装现货!主营品牌!可含税欢迎查询 |
|||
TexasInstruments |
18+ |
ICSCANTESTDEVICEW/FF24-D |
6800 |
公司原装现货/欢迎来电咨询! |
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TI |
24+ |
SOP |
90 |
只做原装，欢迎询价，量大价优 |
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TI |
25+ |
10 |
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TI |
新 |
5 |
全新原装 货期两周 |
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2019-12-10
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