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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS

Members of the Texas Instruments SCOPE™ Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F244 and ’BCT244 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operation

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更新时间:2025-11-3 23:00:01
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI(德州仪器)
24+
SOP24300mil
924
只做原装,提供一站式配单服务,代工代料。BOM配单
TI(德州仪器)
24+
SOP24300mil
1493
原装现货,免费供样,技术支持,原厂对接
TI/德州仪器
24+
DIP-24
880000
明嘉莱只做原装正品现货
TI
20+
24DIP
53650
TI原装主营-可开原型号增税票
TI(德州仪器)
23+
13650
公司只做原装正品,假一赔十
TI/德州仪器
23+
SOIC-24
12700
买原装认准中赛美
TI/德州仪器
22+
SOIC-24
500000
原装现货支持实单价优/含税
TI/德州仪器
22+
SOP24
12245
现货,原厂原装假一罚十!
TI
25+
DIP
18000
原厂直接发货进口原装
TI
23+
SOP24-7.2MM
5000
全新原装,支持实单,非诚勿扰

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