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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS

Members of the Texas Instruments SCOPE™ Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F244 and ’BCT244 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operation

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更新时间:2026-1-5 10:38:01
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI/德州仪器
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SOIC-24
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24+
SOP24-7.2MM
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只供应原装正品 欢迎询价
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25+
SOP24-7.2MM
30000
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2020+
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TI
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3200
公司只做原装,可来电咨询
TI
23+
NA
20000

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