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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS

Members of the Texas Instruments SCOPE™ Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F244 and ’BCT244 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operation

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更新时间:2026-1-5 18:35:01
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI
24+/25+
5500
原装正品现货库存价优
TI
23+
NA
20000
TI(德州仪器)
23+
13650
公司只做原装正品,假一赔十
Texas Instruments
25+
24-DIP(0.300 7.62mm)
9350
独立分销商 公司只做原装 诚心经营 免费试样正品保证
TI
25+
DIP
18000
原厂直接发货进口原装
TI/德州仪器
23+
SOIC-24
12700
买原装认准中赛美
TI/德州仪器
24+
DIP-24
880000
明嘉莱只做原装正品现货
TI/德州仪器
22+
SOIC-24
500000
原装现货支持实单价优/含税
SN74BCT8244ADWR
25+
2461
2461
TI
25+
SOP24-7.2MM
30000
代理全新原装现货,价格优势

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