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SN74BCT8244ANT

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS

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SN74BCT8244ANT

封装/外壳:24-DIP(0.300",7.62mm) 包装:卷带(TR) 描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP 集成电路(IC) 专用逻辑器件

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封装/外壳:24-DIP(0.300",7.62mm) 包装:卷带(TR) 描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP 集成电路(IC) 专用逻辑器件

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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS

Members of the Texas Instruments SCOPE™ Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F244 and ’BCT244 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operation

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SN74BCT8244ANT产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SN74BCT8244ANT

  • 功能描述

    特定功能逻辑 Device w/Octal Buffers

  • RoHS

  • 制造商

    Texas Instruments

  • 系列

    SN74ABTH18502A

  • 工作电源电压

    5 V

  • 封装/箱体

    LQFP-64

  • 封装

    Tube

更新时间:2026-1-3 23:00:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
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24+
SOP24300mil
7350
现货供应,当天可交货!免费送样,原厂技术支持!!!
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24+
SOP24300mil
1493
原装现货,免费供样,技术支持,原厂对接
TI/德州仪器
24+
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880000
明嘉莱只做原装正品现货
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23+
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18000
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16
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6800
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