型号 功能描述 生产厂家 企业 LOGO 操作

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio

TI

德州仪器

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:474.07 Kbytes Page:26 Pages

TI

德州仪器

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:644.36 Kbytes Page:28 Pages

TI

德州仪器

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:474.07 Kbytes Page:26 Pages

TI

德州仪器

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:644.36 Kbytes Page:28 Pages

TI

德州仪器

更新时间:2025-12-27 16:20:01
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
SN74BCT8374ADWR
25+
1823
1823
TI
5
全新原装 货期两周
24+
3000
自己现货
TI/德州仪器
22+
SOIC-24
20000
公司只有原装 品质保障
TI/德州仪器
24+
SOIC-24
9600
原装现货,优势供应,支持实单!
TI/德州仪器
23+
SOIC-24
5000
只有原装,欢迎来电咨询!
TI/德州仪器
25+
SOIC-24
9980
只做原装 支持实单
ADI
23+
DIP
8000
只做原装现货
ADI
23+
DIP
7000
TI德州仪器
22+
24000
原装正品现货,实单可谈,量大价优

74BCT8374ANT数据表相关新闻