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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio

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更新时间:2025-12-27 9:48:01
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI/德州仪器
23+
DIP
50000
全新原装正品现货,支持订货
TI
22+
24PDIP
9000
原厂渠道,现货配单
SN74BCT8374ADWR
25+
1823
1823
TI/德州仪器
22+
SOIC-24
20000
公司只有原装 品质保障
TI
23+
N/A
7560
原厂原装
TI
25+
DIP
4301
全新现货
24+
N/A
57000
一级代理-主营优势-实惠价格-不悔选择
Texas Instruments(德州仪器)
24+
690000
代理渠道/支持实单/只做原装
TI
16+
SOIC
10000
原装正品
TI
20+
24SOIC
53650
TI原装主营-可开原型号增税票

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