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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio

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更新时间:2025-12-26 23:01:01
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI(德州仪器)
24+
SOP24300mil
924
只做原装,提供一站式配单服务,代工代料。BOM配单
TI/德州仪器
24+
NA/
7541
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20+
24SOIC
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SN74BCT8374ADWR
25+
1823
1823
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23+
N/A
7560
原厂原装
TI/德州仪器
23+
SOIC-24
5000
只有原装,欢迎来电咨询!
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2021+
SOIC-24
499
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5
全新原装 货期两周
24+
3000
自己现货
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22+
24PDIP
9000
原厂渠道,现货配单

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