| 型号 | 功能描述 | 生产厂家 企业 | LOGO | 操作 |
|---|---|---|---|---|
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS Members of the Texas Instruments SCOPE Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio | TI 德州仪器 |   | ||
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| IC供应商 | 芯片型号 | 品牌 | 批号 | 封装 | 库存 | 备注 | 价格 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
TI/德州仪器 |
23+ |
SOIC-24 |
5000 |
只有原装,欢迎来电咨询! |
|||
Texas Instruments |
24+25+ |
16500 |
全新原厂原装现货!受权代理!可送样可提供技术支持! |
||||
SN74BCT8374ADWR |
25+ |
1823 |
1823 |
||||
TI |
20+ |
24SOIC |
53650 |
TI原装主营-可开原型号增税票 |
|||
24+ |
3000 |
自己现货 |
|||||
Texas Instruments |
24+ |
24-SOIC |
56200 |
一级代理/放心采购 |
|||
TI |
25+ |
24-SOIC |
18746 |
样件支持,可原厂排单订货! |
|||
TI |
22+ |
24PDIP |
9000 |
原厂渠道,现货配单 |
|||
Texas Instruments |
25+ |
24-SOIC(0.295 7.50mm 宽) |
9350 |
独立分销商 公司只做原装 诚心经营 免费试样正品保证 |
|||
TI/德州仪器 |
24+ |
SOIC-24 |
9600 |
原装现货,优势供应,支持实单! |
74BCT8374规格书下载地址
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