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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

Members of the Texas Instruments SCOPE ™ Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F245 and BCT245 in the Normal- Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio

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更新时间:2026-3-11 18:59:01
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