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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS

Members of the Texas Instruments SCOPE™ Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F244 and ’BCT244 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operation

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74BCT8244DW产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    74BCT8244DW

  • 制造商

    Texas Instruments

更新时间:2025-11-21 19:10:02
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI/德州仪器
24+
DIP-24
880000
明嘉莱只做原装正品现货
TI
24+/25+
5500
原装正品现货库存价优
TI/德州仪器
24+
SOP24-7.2MM
4155
只供应原装正品 欢迎询价
TI
23+
SOP24-7.2MM
3200
正规渠道,只有原装!
TI(德州仪器)
2511
8790
电子元器件采购降本30%!原厂直采,砍掉中间差价
TI/德州仪器
22+
SOIC-24
500000
原装现货支持实单价优/含税
TI(德州仪器)
24+
SOP24300mil
924
只做原装,提供一站式配单服务,代工代料。BOM配单
TI
25+
SOP24-7.2MM
30000
代理全新原装现货,价格优势
TI/德州仪器
22+
SOP24
12245
现货,原厂原装假一罚十!
SN74BCT8244ADWR
25+
2461
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