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TPS7H2211-SP_V01

TPS7H2211-SPRadiation-Hardness-Assured(RHA)14-V,3.5-AeFuse

1Features •Totalionizingdose(TID)characterizedto100 krad(Si) –Radiationhardnessassuranceavailabilityof 100krad(Si) •Single-eventeffects(SEE)characterized –Single-eventlatchup(SEL),single-event burnout(SEB),andsingle-eventgaterupture (SEGR)immunetolinearenergy

TITexas Instruments

德州仪器美国德州仪器公司

TI
更新时间:2025-5-13 16:23:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
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