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SNJ54ABT8652FK

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F652 and ABT652 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149.

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SNJ54ABT8652FK产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SNJ54ABT8652FK

  • 制造商

    TI

  • 制造商全称

    Texas Instruments

  • 功能描述

    SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS AND REGISTERS

更新时间:2025-11-23 15:40:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
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860000
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