型号 功能描述 生产厂家 企业 LOGO 操作
SN74BCT8374ADWE4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:474.07 Kbytes Page:26 Pages

TI

德州仪器

SN74BCT8374ADWE4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

文件:644.36 Kbytes Page:28 Pages

TI

德州仪器

SN74BCT8374ADWE4产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SN74BCT8374ADWE4

  • 功能描述

    特定功能逻辑 Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop

  • RoHS

  • 制造商

    Texas Instruments

  • 系列

    SN74ABTH18502A

  • 工作电源电压

    5 V

  • 封装/箱体

    LQFP-64

  • 封装

    Tube

更新时间:2026-3-2 23:00:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI
25+
24-SOIC
18746
样件支持,可原厂排单订货!
TI
25+
24-SOIC
18798
正规渠道,免费送样。支持账期,BOM一站式配齐
SN74BCT8374ADWR
25+
1823
1823
TI
22+
24SOIC
9000
原厂渠道,现货配单
TexasInstruments
18+
ICSCANTESTDEVICEW/FF24-S
6800
公司原装现货/欢迎来电咨询!
ADI
23+
DIP
8000
只做原装现货
ADI
23+
DIP
7000
Texas Instruments
24+
24-SOIC
56200
一级代理/放心采购
Texas Instruments
25+
24-SOIC(0.295 7.50mm 宽)
9350
独立分销商 公司只做原装 诚心经营 免费试样正品保证
TI
25+
DIP
4301
全新现货

SN74BCT8374ADWE4数据表相关新闻