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SN74ABT8245DWG4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F245 and ’ABT245 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set: – IEEE Standard 114

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SN74ABT8245DWG4

封装/外壳:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) 包装:管件 描述:IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 集成电路(IC) 专用逻辑器件

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SN74ABT8245DWG4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

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SN74ABT8245DWG4产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SN74ABT8245DWG4

  • 功能描述

    特定功能逻辑 Scan Test Devices

  • RoHS

  • 制造商

    Texas Instruments

  • 系列

    SN74ABTH18502A

  • 工作电源电压

    5 V

  • 封装/箱体

    LQFP-64

  • 封装

    Tube

更新时间:2026-1-30 16:58:00
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