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SN74ABT8245DW.B

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F245 and ’ABT245 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set: – IEEE Standard 114

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更新时间:2025-9-18 23:00:00
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