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SN74ABT18245ADLR.B

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT BUS TRANSCEIVERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments WidebusE Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instru

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更新时间:2025-11-20 23:00:00
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    安装类型 表面贴装型 封装/外壳 56-BSSOP(0.295,7.50mm 宽) 工作温度 -40°C ~ 85°C 供应商器件封装 56-SSOP 电流-输出高、低 32mA,64mA 电压-供电 4.5V ~ 5.5V 电路数 18 位

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