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SN54ABTH182502AHV

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS

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德州仪器

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments Widebus E Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture UBT E (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Typ

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SN54ABTH182502AHV产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SN54ABTH182502AHV

  • 制造商

    TI

  • 制造商全称

    Texas Instruments

  • 功能描述

    SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS

更新时间:2025-11-26 17:21:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
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23+
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3200
正规渠道,只有原装!
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25+
QFP
30000
代理全新原装现货,价格优势
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00+
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56
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24+
QFP
1500
只供应原装正品 欢迎询价
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16+
DIESALE
10000
原装正品
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23+
NA
20000
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22+
Die
9000
原厂渠道,现货配单
TI/德州仪器
25+
Die
860000
明嘉莱只做原装正品现货
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23+
DIP
5000
原装正品,假一罚十
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23+
QFP
5000
全新原装,支持实单,非诚勿扰

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