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SN54ABT8543

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F543 and ABT543 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set – IEEE Standard 1149.

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具有八路寄存总线收发器的扫描测试设备

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更新时间:2026-1-2 16:30:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI
23+
QFP
3200
正规渠道,只有原装!
TI
23+
NA
20000
TI/德州仪器
25+
Die
860000
明嘉莱只做原装正品现货
TI
23+
DIP
5000
原装正品,假一罚十
TI
23+
QFP
5000
全新原装,支持实单,非诚勿扰
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23+
QFP
3200
公司只做原装,可来电咨询
TI/德州仪器
25+
DIESALE
13000
公司只有原装
TI
22+
QFP
20000
公司只做原装 品质保障
TI德州仪器
22+
24000
原装正品现货,实单可谈,量大价优
TI
16+
DIESALE
10000
原装正品

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