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TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTERS WITH 16-BIT GENERIC HOST INTERFACES

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Control Operation of Up to Six Parallel Target Scan Paths Accommodate Pipeline Delay to Target of Up to 31 Clock Cycl

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更新时间:2025-12-24 23:01:01
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