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SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments WidebusE Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Include D-Type Flip-Flops and Control Circuitry to Provide Multiplex

TI

德州仪器

74ABTH182646APMG4产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    74ABTH182646APMG4

  • 功能描述

    特定功能逻辑 Scan Test Devices

  • RoHS

  • 制造商

    Texas Instruments

  • 系列

    SN74ABTH18502A

  • 工作电源电压

    5 V

  • 封装/箱体

    LQFP-64

  • 封装

    Tube

更新时间:2025-10-11 23:00:00
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