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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio

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更新时间:2025-8-8 21:04:00
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