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SNJ54BCT8374AFK.A

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Members of the Texas Instruments SCOPE  Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F374 and ’BCT374 in the Normal-Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio

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更新时间:2025-8-5 18:04:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI/德州仪器
23+
CDIP24
9990
正规渠道,只有原装!
TI
16+
CFP
10000
原装正品
TI/德州仪器
18+
CDIP24
5000
TI原厂原装全系列订货假一赔十
TI/德州仪器
25+
CFP-48
860000
明嘉莱只做原装正品现货
TI/TEXAS
23+
CDIP
8931
TI/德州仪器
23+
CLCC20
11200
原厂授权一级代理、全球订货优势渠道、可提供一站式BO
TI
2021+
60000
原装现货,欢迎询价
TI
23+
CDIP-14
5000
原装正品,假一罚十
TI
23+
DIP
8000
只做原装现货
TI
23+
DIP
7000

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