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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

Members of the Texas Instruments SCOPE ™ Family of Testability Products Octal Test-Integrated Circuits Functionally Equivalent to ’F245 and BCT245 in the Normal- Function Mode Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Test Operatio

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更新时间:2025-8-9 17:39:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
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18+
N/A
6000
主营军工偏门料,国内外都有渠道
TI/TEXAS
23+
原厂封装
8931
LINEAR/凌特
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CDIP24
12500
全新原装正品,本司专业配单,大单小单都配
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TI原厂原装全系列订货假一赔十
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23+
3200
公司只做原装,可来电咨询
TI/德州仪器
25+
LCCC
13000
公司只有原装
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2000
原装正品现货
TI
22+
NA
500000
万三科技,秉承原装,购芯无忧

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