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SN74BCT8374ADWRG4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

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TI

德州仪器

SN74BCT8374ADWRG4

封装/外壳:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) 包装:管件 描述:IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 集成电路(IC) 专用逻辑器件

TI

德州仪器

SN74BCT8374ADWRG4产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SN74BCT8374ADWRG4

  • 功能描述

    特定功能逻辑 Scan Test Device

  • RoHS

  • 制造商

    Texas Instruments

  • 系列

    SN74ABTH18502A

  • 工作电源电压

    5 V

  • 封装/箱体

    LQFP-64

  • 封装

    Tube

更新时间:2025-11-3 23:00:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI/德州仪器
24+
NA/
7541
原厂直销,现货供应,账期支持!
TI
20+
SOP
2960
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TI/德州仪器
23+
SOT-353
50000
原装正品 支持实单
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18+
ICSCANTESTDEVICE24SOIC
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