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SN74BCT8373ADWRE4

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

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TI

德州仪器

SN74BCT8373ADWRE4

封装/外壳:24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) 包装:卷带(TR) 描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC 集成电路(IC) 专用逻辑器件

TI

德州仪器

SN74BCT8373ADWRE4产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SN74BCT8373ADWRE4

  • 功能描述

    特定功能逻辑 Fixed LDO Volt Reg

  • RoHS

  • 制造商

    Texas Instruments

  • 系列

    SN74ABTH18502A

  • 工作电源电压

    5 V

  • 封装/箱体

    LQFP-64

  • 封装

    Tube

更新时间:2025-11-3 16:51:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI
23+
N/A
7560
原厂原装
TI
20+
24DIP
53650
TI原装主营-可开原型号增税票
TexasInstruments
18+
ICSCANTESTDEVICELATCH24S
6800
公司原装现货/欢迎来电咨询!
TI
25+
14
公司优势库存 热卖中!!
Rochester
25+
电联咨询
7800
公司现货,提供拆样技术支持
24+
3000
自己现货
TI/德州仪器
23+
DIP
11200
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TI/德州仪器
24+
SOIC-24
9600
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24000
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2447
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100500
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