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SN74ABTH18646APMG4.B

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments WidebusE Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Include D-Type Flip-Flops and Control Circuitry to Provide Multiplex

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德州仪器

更新时间:2025-10-7 16:06:00
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