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SN54ABTH18646AHV

SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS

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SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Members of the Texas Instruments WidebusE Family Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Include D-Type Flip-Flops and Control Circuitry to Provide Multiplex

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SN54ABTH18646AHV产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SN54ABTH18646AHV

  • 制造商

    TI

  • 制造商全称

    Texas Instruments

  • 功能描述

    SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS

更新时间:2025-9-29 16:33:00
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