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SN54ABT8245JT

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

Members of the Texas Instruments SCOPE E Family of Testability Products Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Functionally Equivalent to ’F245 and ’ABT245 in the Normal-Function Mode SCOPE E Instruction Set: – IEEE Standard 114

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SN54ABT8245JT产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SN54ABT8245JT

  • 制造商

    TI

  • 制造商全称

    Texas Instruments

  • 功能描述

    SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS

更新时间:2025-8-10 20:44:00
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
TI/德州仪器
1948+
QFP
6852
只做原装正品现货!或订货假一赔十!
TI/德州仪器
25+
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860000
明嘉莱只做原装正品现货
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原装正品,假一罚十
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23+
QFP
5000
全新原装,支持实单,非诚勿扰
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23+
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3200
公司只做原装,可来电咨询
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22+
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500000
万三科技,秉承原装,购芯无忧
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16+
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10000
原装正品
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2511
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3200
电子元器件采购降本 30%!盈慧通原厂直采,砍掉中间差价
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56
一级代理,专注军工、汽车、医疗、工业、新能源、电力
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