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SN54ABT18502

SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT REGISTERED BUS TRANSCEIVER

Member of the Texas Instruments Widebus Family UBT Transceiver Combines D-Type Latches and D-Type Flip-Flops for Operation in Transparent, Latched, or Clocked Mode Compatible With IEEE Std 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port (TAP) and Boundary-Scan Architecture Includes D-Type Flip-Flop

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SN54ABT18502

具有 18 位寄存总线收发器的扫描测试设备

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SN54ABT18502产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SN54ABT18502

  • 制造商

    TI

  • 制造商全称

    Texas Instruments

  • 功能描述

    SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT REGISTERED BUS TRANSCEIVER

更新时间:2025-10-8 18:27:00
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