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SCAN921025 and SCAN921226 30-80 MHz 10 Bit Bus LVDS Serializer and Deserializer with IEEE 1149.1 (JTAG) and at-speed BIST

1FEATURES 2• IEEE 1149.1 (JTAG) Compliant and At-Speed BIST Test Mode. • Clock Recovery From PLL Lock to Random Data Patterns. • Specified Transition Every Data Transfer Cycle • Chipset (Tx + Rx) Power Consumption

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德州仪器

SCAN921025 and SCAN921226 30-80 MHz 10 Bit Bus LVDS Serializer and Deserializer with IEEE 1149.1 (JTAG) and at-speed BIST

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TI

德州仪器

30-80 MHz 10 Bit Bus LVDS Serializer and Deserializer with IEEE 1149.1 (JTAG) and at-speed BIST

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NSC

国半

High Temperature 20-80 MHz 10 Bit Bus LVDS SerDes with IEEE 1149.1 (JTAG) and at-speed BIST

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NSC

国半

SCAN921025H and SCAN921226H High Temperature 20-80 MHz 10 Bit Bus LVDS SerDes with IEEE 1149.1 (JTAG) and at-speed BIST

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德州仪器

更新时间:2025-11-3 9:49:01
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
NS/国半
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