型号 功能描述 生产厂家&企业 LOGO 操作

NXP

ETC

知名厂家

相关企业:富凯科技(深圳)有限公司

NXP
TQFP-100

ETC

知名厂家

相关企业:深圳市科翼源电子有限公司

PHILIPS
原厂封装

ETC

知名厂家

相关企业:深圳深宇韬电子科技有限公司

TI
TQFP100

ETC

知名厂家

相关企业:深圳市卓越微芯电子有限公司

Trident
TQFP100

ETC

知名厂家

相关企业:深圳市威尔健半导体有限公司

PHI
原装

ETC

知名厂家

相关企业:深圳市恒创达实业有限公司

PHI
原装

ETC

知名厂家

相关企业:深圳市恒创达实业有限公司

PHI
原装

ETC

知名厂家

相关企业:深圳市恒创达实业有限公司

SAA7115AHL/V1产品属性

  • 类型

    描述

  • 型号

    SAA7115AHL/V1

  • 功能描述

    视频 IC 9-BIT VIDEO DECODER

  • RoHS

  • 制造商

    Fairchild Semiconductor

  • 工作电源电压

    5 V

  • 电源电流

    80 mA

  • 最大工作温度

    + 85 C

  • 封装/箱体

    TSSOP-28

  • 封装

    Reel

更新时间:2025-8-4 23:00:02
IC供应商 芯片型号 品牌 批号 封装 库存 备注 价格
恩XP
24+
NA/
53
优势代理渠道,原装正品,可全系列订货开增值税票
TRIDENT
25+
TQFP100
54815
百分百原装现货,实单必成,欢迎询价
Trident
1815+
TQFP100
6528
只做原装正品假一赔十为客户做到零风险!!
恩XP
24+
LQFP-100
23000
NXP单片机专卖进口原装现货
PHI
23+
QFP
12300
PHI
23+
TQFP
30000
代理全新原装现货,价格优势
恩XP
23+
TQFP-100
2830
原厂原装正品
恩XP
2223+
QFP
26800
只做原装正品假一赔十为客户做到零风险
恩XP
20+
QFP
500
样品可出,优势库存欢迎实单
恩XP
22+
LQFP100
10000
现货,原厂原装假一罚十!

SAA7115AHL/V1芯片相关品牌

  • CHENDA
  • FRANCEJOINT
  • HARWIN
  • IRF
  • Ricoh
  • SCHURTER
  • Semikron
  • Sensata
  • SICK
  • SKYWORKS
  • TDK
  • TOCOS

SAA7115AHL/V1数据表相关新闻

  • SAB82526HV2.1

    SAB82526HV2.1

    2023-5-16
  • SAA7114H/V2,557

    TW5864视频IC,SMD/SMT3.3V视频IC,VideoICs视频IC,8Channel视频IC,VideoSignalSwitch视频IC,1ChannelVideoICs视频IC

    2020-7-13
  • SAB-C161PI-LF

    : LQFP-4816位微控制器-MCU,S1216位微控制器-MCU,MC9S12DP51216位微控制器-MCU,8kBMSP43016位微控制器-MCU,384kB16位微控制器-MCU,TQFP-641MB16位微控制器-MCU

    2020-7-9
  • SAA7160ET

    SAA7160ET

    2020-4-20
  • SAA1502ATS-锂离子的安全芯片

    特点·集成电源开关·温度保护·零电压启动·放电和充电过流保护·自动释放电流保护去除充电器或负载·极低的电流消耗时电池电压低于2.3V〜·低电流消耗,在正常操作模式·精确的电压检测水平·低电阻电流路径·能够容纳17.5V充电电压电荷读出禁用状态·小型封装(SSOP16)低外部元件数·连续监测电池的电压和(DIS)的充电电流。SAA1502ATS是在双极,CMOS制造DMOS(BCD

    2012-12-30
  • SAA1501-电池电量指示

    特点·高集成度,以便在智能电池组的组装·精确的充电和放电的帐户大动态范围的充电和放电电流·独立设置的充放电效率·2V的最小电源电压(2细胞操作)·在充电过程中电池温度保护·温度控制的自放电·精确的充电电流调节·两个充电量显示模式,LCD和LED。SAA1501T是打算作为一个电池监控器使用在充电电池和充电电流控制电路系统。SAA1501T是处理BiCMOS技术其中混合的双极型和CMOS技术的好处充分利用,以实现高精度测量在同一设备中的数

    2012-12-30