位置：首页 > IC中文资料第5475页 > SAA5565PS
| 型号 | 功能描述 | 生产厂家&企业 | LOGO | 操作 |
|---|---|---|---|---|
6GHzUltrahighDynamicRangeDifferentialAmplifier GENERALDESCRIPTION TheADL5565isahighperformancedifferentialamplifieroptimizedforRFandIFapplications.Theamplifierofferslownoiseof1.5nV/√Hzandexcellentdistortionperformanceoverawidefrequencyrangemakingitanidealdriverforhighspeed8-bitto16-bitanalog-to-digit | ADAnalog Devices 亚德诺亚德诺半导体技术有限公司 |  |   | |
RelampableSocket 文件：35.81 Kbytes Page：1 Pages | APITECH API Technologies Corp |  | | |
low-loss,compact,andeconomicalsurface-acoustic-wave(SAW) 文件：92.15 Kbytes Page：3 Pages | ACT Advanced Crystal Technology |  | | |
SAWFilter 文件：162.29 Kbytes Page：3 Pages | ACT Advanced Crystal Technology | | | |
6GHzUltrahighDynamicRange 文件：842.35 Kbytes Page：28 Pages | ADAnalog Devices 亚德诺亚德诺半导体技术有限公司 | | |
SAA5565PS产品属性
- 类型
描述
- 型号
SAA5565PS
- 制造商
PHILIPS
- 制造商全称
NXP Semiconductors
- 功能描述
Enhanced TV microcontrollers with On-Screen Display OSD
| IC供应商 | 芯片型号 | 品牌 | 批号 | 封装 | 库存 | 备注 | 价格 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
ADI/LINEAR |
24+ |
NA |
58209 |
免费送样原盒原包现货一手渠道联系 |
|||
ADI(亚德诺) |
24+ |
LFCSP-16 |
7648 |
原厂可订货,技术支持,直接渠道。可签保供合同 |
|||
ADI |
24+ |
LFCSP |
8540 |
只做原装正品现货或订货假一赔十! |
|||
ADI(亚德诺) |
24+ |
6000 |
全新原厂原装正品现货,低价出售,实单可谈 |
||||
ADI/亚德诺 |
23+ |
LFCSP16 |
90000 |
只做原装 ！全系列供应可长期供货稳定价格优势！ |
|||
ADI/亚德诺 |
2406+ |
LFCSP |
1850 |
诚信经营!进口原装!量大价优! |
|||
ADI/亚德诺 |
23+ |
LFCSP16 |
18204 |
原装正品代理渠道价格优势 |
|||
ADI/亚德诺 |
22+ |
66900 |
原封装 |
||||
ADI |
18+ |
LFCSP |
85600 |
保证进口原装可开17%增值税发票 |
|||
ADI(亚德诺) |
23+ |
N/A |
10000 |
公司只做原装，可来电咨询 |
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- SAA7109
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2020-4-20SAA1502ATS-锂离子的安全芯片
特点·集成电源开关·温度保护·零电压启动·放电和充电过流保护·自动释放电流保护去除充电器或负载·极低的电流消耗时电池电压低于2.3V〜·低电流消耗，在正常操作模式·精确的电压检测水平·低电阻电流路径·能够容纳17.5V充电电压电荷读出禁用状态·小型封装（SSOP16）低外部元件数·连续监测电池的电压和（DIS）的充电电流。SAA1502ATS是在双极，CMOS制造DMOS（BCD
2012-12-30SAA1501-电池电量指示
特点·高集成度，以便在智能电池组的组装·精确的充电和放电的帐户大动态范围的充电和放电电流·独立设置的充放电效率·2V的最小电源电压（2细胞操作）·在充电过程中电池温度保护·温度控制的自放电·精确的充电电流调节·两个充电量显示模式，LCD和LED。SAA1501T是打算作为一个电池监控器使用在充电电池和充电电流控制电路系统。SAA1501T是处理BiCMOS技术其中混合的双极型和CMOS技术的好处充分利用，以实现高精度测量在同一设备中的数
2012-12-30
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