位置：首页 > IC中文资料第5962页 > SA8807AFA
| 型号 | 功能描述 | 生产厂家 企业 | LOGO | 操作 |
|---|---|---|---|---|
SA8807AFA | 96 SEGMENT LIQUID CRYSTAL DISPLAY DRIVER SERIAL (SPI) INTERFACE DESCRIPTION The SAMES SA8807A Liquid Crystal Display (LCD) Driver is capable of driving up to 96 LCD segments and is designed for displays having 3 or 4 track multiplexed backplanes. FEATURES • Drives up to 96 segments • Serial (SPI) interface with Read/Write capability • Operates over a wide | SAMES |   | |
96 SEGMENT LIQUID CRYSTAL DISPLAY DRIVER SERIAL (SPI) INTERFACE DESCRIPTION The SAMES SA8807A Liquid Crystal Display (LCD) Driver is capable of driving up to 96 LCD segments and is designed for displays having 3 or 4 track multiplexed backplanes. FEATURES • Drives up to 96 segments • Serial (SPI) interface with Read/Write capability • Operates over a wide | SAMES | | ||
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Three-Beam Method Head Amplifier IC for CD-ROM 文件：90.35 Kbytes Page：10 Pages | PANASONIC 松下 | |
SA8807AFA产品属性
- 类型
描述
- 型号
SA8807AFA
- 制造商
SAMES
- 制造商全称
SAMES
- 功能描述
96 SEGMENT LIQUID CRYSTAL DISPLAY DRIVER SERIAL(SPI) INTERFACE
| IC供应商 | 芯片型号 | 品牌 | 批号 | 封装 | 库存 | 备注 | 价格 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
SAWNICS |
24+ |
NA |
990000 |
明嘉莱只做原装正品现货 |
|||
SYTATEK/矽塔 |
2026+ |
TSSOP16 |
56468 |
百分百原装现货 实单必成 |
|||
ROHS |
24+ |
SMD |
35200 |
一级代理分销/放心采购 |
|||
SAWNICS |
22+ |
假一赔十 |
20000 |
公司只做原装 品质保障 |
|||
SAWNICS |
24+ |
SMD |
5500 |
长期供应原装现货实单可谈 |
|||
RXRFSAWFILT |
23+ |
NA |
15659 |
振宏微专业只做正品,假一罚百! |
|||
SAWNICS |
1 |
2520 |
20100 |
全新 发货1-2天 |
|||
SC |
24+ |
2912 |
自己现货 |
||||
SAWNICS |
NA |
5500 |
一级代理 原装正品假一罚十价格优势长期供货 |
||||
NS/美国国半 |
25+ |
DIP8 |
5 |
全新原装正品支持含税 |
SA8807AFA规格书下载地址
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- SA9025
- SA9024
- SA900BE
- SA900
- SA90(C)
- SA9.5A
- SA9.0CA
- SA9.0C
- SA9.0AG
- SA9.0A
- SA9.0(C)A
- SA9.0
- SA8V5CA-T
- SA8V5CA-B
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- SA8V5A-T
- SA8V5A-B
- SA8V5A
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- SA8V0CA-B
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- SA8V0A-B
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特点 ·高集成度，以便在智能电池组的组装 ·精确的充电和放电的帐户 大动态范围的充电和放电电流 ·独立设置的充放电效率 ·2 V的最小电源电压（2细胞操作） ·在充电过程中电池温度保护 ·温度控制的自放电 ·精确的充电电流调节 ·两个充电量显示模式，LCD和LED。 SAA1501T是打算作为一个电池监控器使用在充电电池和充电电流控制电路系统。SAA1501T是处理BiCMOS技术其中混合的双极型和CMOS技术的好处充分利用，以实现高精度测量在同一设备中的数
2012-12-30
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