位置:SJ1117-API > SJ1117-API详情
SJ1117-API中文资料
SJ1117-API产品属性
- 类型
描述
- 型号
SJ1117-API
- 制造商
KODENSHI
- 制造商全称
KODENSHI KOREA CORP.
- 功能描述
Adjustable and Fixed Voltage Regulator
更新时间:2025-5-11 10:34:00
供应商 | 型号 | 品牌 | 批号 | 封装 | 库存 | 备注 | 价格 |
---|---|---|---|---|---|---|---|
KODENSHI AUK(光电子 |
24+ |
SOT-223 |
360000 |
交期准时服务周到 |
|||
1844+ |
TO252 |
9852 |
只做原装正品假一赔十为客户做到零风险!! |
||||
AUK |
23+ |
TO-223 |
50000 |
全新原装正品现货,支持订货 |
|||
AUK |
21+ |
TO-223 |
10000 |
原装现货假一罚十 |
|||
AUK |
10+ |
TO-223 |
14090 |
一级代理,专注军工、汽车、医疗、工业、新能源、电力 |
|||
AUK |
24+ |
NA/ |
17340 |
原厂直销,现货供应,账期支持! |
|||
AUK |
23+ |
TO-223 |
14090 |
全新原装正品现货,支持订货 |
|||
AUK |
24+ |
TO-223 |
60000 |
全新原装现货 |
|||
ALTERA |
24+ |
QFP |
5762 |
||||
EVERLIGHT |
24+ |
TO-924 |
500 |
SJ1117-API 资料下载更多...
SJ1117-API 芯片相关型号
- SJ1117-25Q
- SJ1117-285D
- SJ1117-285F
- SJ1117-285PI
- SJ1117-285Q
- SJ1117-33D
- SJ1117-33F
- SJ1117-33PI
- SJ1117-33Q
- SJ1117-50D
- SJ1117-50F
- SJ1117-50PI
- SJ1117-50Q
- SJ1117-AD
- SJ1117-AF
- SJ1117-AQ
- SJ1117XXX
- SJ432A
- SJ432AM
- SJ432AN
- SJ432AS
- SJ432B
- SJ432BM
- SJ432BN
- SJ432BS
- SJ432XX
- SM8M10AT-C
- SM8M10T-C
- SM8M11AT-C
- SM8M11T-C
Datasheet数据表PDF页码索引
- P1
- P2
- P3
- P4
- P5
- P6
- P7
- P8
- P9
- P10
- P11
- P12
- P13
- P14
- P15
- P16
- P17
- P18
- P19
- P20
- P21
- P22
- P23
- P24
- P25
- P26
- P27
- P28
- P29
- P30
- P31
- P32
- P33
- P34
- P35
- P36
- P37
- P38
- P39
- P40
- P41
- P42
- P43
- P44
- P45
- P46
- P47
- P48
- P49
- P50
- P51
- P52
- P53
- P54
- P55
- P56
- P57
- P58
- P59
- P60
- P61
- P62
- P63
- P64
- P65
- P66
- P67
- P68
- P69
- P70
- P71
- P72
- P73
- P74
- P75
- P76
- P77
- P78
- P79
- P80
- P81
- P82
- P83
- P84
- P85
- P86
- P87
- P88
- P89
- P90
- P91
- P92
- P93
- P94
- P95
- P96
- P97
KODENSHI_AUK CORP. 可天士光电子集团
KODENSHI(可天士)集团成立于1972年,源于日本京都,经过40多年的发展,已成为全球领先的光电子产品供应商,拥有多个研发和生产基地以及全球化销售网络。公司主要生产发光二极管、受光二极管、三极管、光电池、Encoder模块、光耦、红外遥控接收头、光电IC、IrDA、PDIC、光通讯产品及汽车电子产品等。其高精度、高灵敏度的一体化编码器模块(AB相位阵技术)、粉尘传感器和材质传感器在编码器、颗粒物检测和材质检测方面表现出色,具有高性价比和可定制化的特点。编码器产品广泛替代A公司产品,采用相位阵技术,提供更高的分辨率和更好的高速稳定性,最高支持2000cpr分辨率。在颗粒物检测方面,通过计算