背照式CMOS TDI图像传感器

GLT5016BSI 是一款背照式(BSI)、时延积分 (TDI)、电荷域 CMOS 图像传感器，水平方向有效分辨率为16416，像素尺寸为5 μm，最高满阱15 ke⁻，具有优异的anti-blooming能力以及大于0.99996的电荷转移效率（CTE），最高级数支持256级，最高行频可达500 kHz，在最高行频情况下功耗小于6.4 W，为确保高可靠性和良好的散热性能，其采用415引脚的μPGA陶瓷封装。GLT5016BSI具备高分辨率、高灵敏度、高帧频、低功耗等优异性能，同时片上集成了时序控制模块和电源管理模块，支持通道合并、可选扫描方向等功能，为基因测序、半导体检测、屏幕检测等应用带 • 双感光谱段\n• 背照式、TDI\n• 双谱段HDR\n• 峰值量子效率: 92% (436 nm)\n;